| C-Stage C阶 |
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一个固态的树脂聚合物的情况,具有高分子量,不会溶解和融化。 |
| CAD 电脑辅助设计 |
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见电脑辅助设计。
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| CAM 电脑辅助制造 |
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见电脑辅助制造。
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Card-edge
Connector 板边缘连接器 |
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见手指。 |
Center-to-Center Spacing 中心对中心间距 |
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在印制电路板任何层间上相邻要素或走线中心之间的标称距离。 |
| Chamfer 倒角 |
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一个由机械加工形成以减少锋利边缘的角。 |
Characteristic Impedance 特性阻抗 |
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在一个信号传送波中,电压对电流的比率:比如,在这条线路上任意一点上的阻抗。特性阻抗用欧姆来表示。在印制电路中,这个值取决于导体的宽度和厚度,从导体到接地铜面的距离,和绝缘介质的介电常数。 |
Check
Plots 检查菲林 |
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只用来检查印制电路板设计的菲林。它不会用于板的制造。 |
Circumferential Separation 环状断裂 |
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沿着镀通孔整个圆周方向上电镀层的断裂。 |
Chip-on-Board
(COB) 板上晶片直装 |
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在印制电路板上直接粘合并导线键合的积体电路。 |
Clad or Cladding 覆箔 |
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一个相对比较薄的金属箔层或片粘合在一个基材芯上,以形成印制电路的基材。 |
Clearance Hole 隔离孔 |
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导电图形上的孔,这个孔大于印制电路板基材中与之同心的孔。 |
Coefficient or Expansion, Thermal 热膨胀系数(CTE) |
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当单位温度改变时,材料尺寸的微量改变。 |
| Component 元件 |
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任何一个用来制造电子设备的基础部件,比如电容,电阻等。 |
Component Hole 元件孔 |
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用于将元器件端子(包括插针和导线)与印制板固定和/或实现电气连接的孔。 |
Component Side 元件面 |
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印制板上安装大多数元器件的那个面。 |
Computer
Aided Design (CAD) 电脑辅助设计 |
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一个工程师使用图像荧幕或绘图以建立并观看一个设计的系统。在印制电路板设计中,CAD档要提供给制造者。见电脑辅助制造。 |
Computer
Aided Manufacturing (CAM) 电脑辅助制造 |
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制造者使用CAD资料来控制印制电路板制造过程各个方面的一个系统。档类型包含Gerber档,钻孔档,测试网表和制造图纸。 |
Conductive
Anodic Filamentation (CAF) 阳极导电丝 |
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由于在两个相邻导体之间的介质材料中形成的一根导电丝而造成的电气短路。 |
Conductive Pattern 导电图形 |
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在基材上导体材料的设计形状。包含导体,连接盘和导通连接等。 |
Conductor Spacing 导体间距 |
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印制板的一层上两个相邻导体边缘的间距,(并非中心线到中心线)。 |
Conductor Base Width 导体底部宽度 |
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在基材平面上的导体宽度。见导体宽度。 |
Conductor-to-Hole Spacing 导体到孔的间距 |
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从一个导体边缘到一个支撑孔边缘或非支撑孔边缘的之间的间距。 |
Conductor Width 导体宽度 |
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随机选取印制电路板上导线任意点从其上方观察到的宽度。 |
| Connector 连接器 |
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一个能够容易地从其匹配部分插入或分离插头或插座 |
| Contaminant 污染物 |
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出现在印制线路元件上的一个杂质或异物,能够以电解,化学或电化学方式侵蚀系统。 |
Coordinate Tolerancing 座标公差 |
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一种直接在线性和角度尺寸标注的公差来注明孔位公差的方法,通常呈现一个允许偏差的矩形区域。同样见:位置限制公差和准确位置公差。 |
| Copper Foil 铜箔 |
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一个阴极特性电解铜,用于印制电路的导体。它是根据一定数量的重量来制造的(厚度):传统的重量是每平方英寸1和2盎司(0.0014" 和0.0028" 厚)。 |
Core Material 内层芯板 |
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一个完全固化的内层部分,在其一面或两面有电路,形成多层电路。 |
Cosmetic Defect 外观缺陷 |
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一个不会影响电路板功能的缺陷,比如其常规颜色的一点轻微改变。 |
| Coupon 测试条 |
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一个提供品质一致性测试电路区域的图形。见测试条。 |
| Crazing 微裂纹 |
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一种在基材表面上或下形成为相连接的白色斑点或 "十字纹" 的情况,反映出在玻纤织物和连接编制在交叉部分的分离。 |
Current-Carrying Capacity 载流能力 |
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在规定条件下,一个导体能够连续地承载、而不会造成产品的电气和机械性能明显降低的最大电流。 |
CAT
Testing Conductor Analysis Technology CAT测试,导体分析技术 |
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导体分析技术是一种通过IPC建立的资料库, 比较一个公司的能力相对于其他公司的标杆方法。按照某几个技术等级(例如层数,盲、埋孔)来评估线宽/间距,孔壁品质,阻抗及对准度等能力项目。通过对为捕捉某类市场而发展的技术生产的产品进行外部评估,从而得到结果。 |
CTE
Coefficient of Thermal Expansion 热膨胀系数 |
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一种当材料受热后膨胀的趋向性度量。它是显示材料受热变化数量的热机械性能特征。CTE通常在x-y(板面方向)和z(板外部,比如通孔方向)尺寸上用ppm/摄氏度来表示。材料将会在低于它的Tg值时,在一个比率下变化,而在它通过Tg之后,按照一个较大的比率变化。 |